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科電儀器MCW-2000B涂層測(cè)厚儀測(cè)量時(shí)如何校準(zhǔn)？
日期：2025-07-01 19:55
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摘要：
科電儀器MCW-2000B涂層測(cè)厚儀測(cè)量時(shí)如何校準(zhǔn)？
(1) 系統(tǒng)校準(zhǔn)
儀器在出廠前已經(jīng)經(jīng)過技術(shù)人員系統(tǒng)校準(zhǔn)，為保證準(zhǔn)確度也可在工作現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行二次系統(tǒng)校準(zhǔn)。
系統(tǒng)校準(zhǔn)過程：
在關(guān)機(jī)狀態(tài)下同時(shí)按住"ON/OFF"鍵和"MENU"鍵，先放開"ON/OFF"鍵然后放開"MENU"鍵即可進(jìn)入系統(tǒng)校準(zhǔn)模式。
本系統(tǒng)校準(zhǔn)共需要校準(zhǔn)五個(gè)標(biāo)準(zhǔn)樣片，進(jìn)入系統(tǒng)后首先顯示"基體"界面，此時(shí)要把探頭放到被測(cè)件的裸露基體上進(jìn)行測(cè)量。測(cè)量兩次后如果測(cè)量沒有錯(cuò)誤操作，伴隨著兩聲蜂鳴便進(jìn)入一個(gè)樣片的測(cè)量。屏幕顯示出廠時(shí)提供的一個(gè)樣片值。如果顯示的樣...
科電儀器MCW-2000B涂層測(cè)厚儀測(cè)量時(shí)如何校準(zhǔn)？
(1) 系統(tǒng)校準(zhǔn)儀器在出廠前已經(jīng)經(jīng)過技術(shù)人員系統(tǒng)校準(zhǔn)，為保證準(zhǔn)確度也可在工作現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行二次系統(tǒng)校準(zhǔn)。
系統(tǒng)校準(zhǔn)過程：
在關(guān)機(jī)狀態(tài)下同時(shí)按住"ON/OFF"鍵和"MENU"鍵，先放開"ON/OFF"鍵然后放開"MENU"鍵即可進(jìn)入系統(tǒng)校準(zhǔn)模式。
本系統(tǒng)校準(zhǔn)共需要校準(zhǔn)五個(gè)標(biāo)準(zhǔn)樣片，進(jìn)入系統(tǒng)后首先顯示"基體"界面，此時(shí)要把探頭放到被測(cè)件的裸露基體上進(jìn)行測(cè)量。測(cè)量兩次后如果測(cè)量沒有錯(cuò)誤操作，伴隨著兩聲蜂鳴便進(jìn)入一個(gè)樣片的測(cè)量。屏幕顯示出廠時(shí)提供的一個(gè)樣片值。如果顯示的樣片值和真實(shí)值不符，可以通過"▲▼"鍵來進(jìn)行加1或減1操作。按住"▲″或"▼"鍵不動(dòng)可以連續(xù)加或減，直到調(diào)整到顯示值和真實(shí)值相同為止。調(diào)整完樣片值之后即可對(duì)一個(gè)樣片進(jìn)行測(cè)量，測(cè)量兩次無誤后，伴隨著兩聲蜂鳴，儀器進(jìn)入下一個(gè)樣片的校準(zhǔn)。若測(cè)量兩次后仍無兩聲蜂鳴，說明操作有誤，重新測(cè)量一次即可。接下來四個(gè)樣片的調(diào)整方法同上。
當(dāng)?shù)谖鍌€(gè)樣片校準(zhǔn)完成后屏幕顯示"0000''，進(jìn)入開機(jī)界面如圖A，儀器此時(shí)即完成了系統(tǒng)校準(zhǔn)過程。以后就可以對(duì)被測(cè)件直接進(jìn)行測(cè)量。
注意：這五個(gè)樣片可以使用提供的標(biāo)準(zhǔn)片也可以使用已知厚度的樣片作為標(biāo)準(zhǔn)片。樣片校準(zhǔn)時(shí)要按照由小到大的順序進(jìn)行，相鄰樣片間應(yīng)該有一定的差值。
如果操作不當(dāng)造成系統(tǒng)校準(zhǔn)紊亂時(shí)，可以通過系統(tǒng)初始化設(shè)置進(jìn)行重新校準(zhǔn)。
系統(tǒng)校準(zhǔn)初始化設(shè)置：
在關(guān)機(jī)狀態(tài)下，同時(shí)按住“▲▼"鍵不動(dòng)，然后按一下"ON/OFF"鍵，直到屏幕顯示“OK"。松開“▲▼"鍵，初始化設(shè)置即可完成。此時(shí)儀器顯示“基體"，儀器進(jìn)入系統(tǒng)校準(zhǔn)狀態(tài)，校準(zhǔn)完畢即可正常測(cè)量。
(2) 兩點(diǎn)校準(zhǔn)
在測(cè)量過程當(dāng)中，如果發(fā)現(xiàn)個(gè)別測(cè)量值偏差較大可以通過兩點(diǎn)校準(zhǔn)方法進(jìn)行調(diào)整。
校準(zhǔn)方法：把一個(gè)已知厚度的被測(cè)試件作為標(biāo)準(zhǔn)樣片進(jìn)行測(cè)量，如果顯示值與真實(shí)值不一致，可以通過"▲"、"▼"鍵進(jìn)行加1或減1操作。按住"▲"、"▼"鍵不放可以進(jìn)行連續(xù)加、減，直到顯示值和真實(shí)值相同為止。校準(zhǔn)完成后即可進(jìn)行正常測(cè)量。
注意：兩點(diǎn)校準(zhǔn)時(shí)選用的被測(cè)試件厚度不要與系統(tǒng)校準(zhǔn)時(shí)的五個(gè)樣片值接近，否則操作無效。
(3)基體校準(zhǔn)
校準(zhǔn)方法：儀器開機(jī)后，先將探頭放在被測(cè)試件的裸露基體上進(jìn)行測(cè)量，測(cè)量兩次，測(cè)完**次按住探頭不動(dòng)按下"CAL"鍵，伴隨著兩聲蜂鳴即可完成基體的校準(zhǔn)。如果沒發(fā)出兩聲蜂鳴說明操作有誤，重新按以上步驟操作直至發(fā)出兩聲蜂鳴即可。
MCW-2000B（渦流）涂層測(cè)厚儀是高新技術(shù)的結(jié)晶，它采用單片機(jī)技術(shù)，精度高、數(shù)字顯示、示值穩(wěn)定、功耗低、操作簡單方便、觸摸按鍵、單探頭全量程測(cè)量、體積小、重量輕；且具有存儲(chǔ)、讀出、統(tǒng)計(jì)、低電壓指示、系統(tǒng)/零點(diǎn)/兩點(diǎn)校準(zhǔn)，其性能達(dá)到當(dāng)代同類儀器的先進(jìn)水平。
技術(shù)參數(shù)：
1、測(cè)量范圍：0~1200um
2、測(cè)量誤差：<3%±1um
3、小示值：1um
4、顯示方式：4位液晶數(shù)字顯示
5、主要功能：
(1).測(cè)量：單探頭全量程測(cè)厚
(2).存儲(chǔ)、刪除：可存入測(cè)量數(shù)據(jù)600個(gè)，對(duì)測(cè)量中的單個(gè)可疑數(shù)據(jù)進(jìn)行刪除，也可以刪除存儲(chǔ)區(qū)內(nèi)的所有數(shù)據(jù)。
(3).讀：讀出已存入的測(cè)量數(shù)據(jù)
(4).統(tǒng)計(jì)：設(shè)有三個(gè)統(tǒng)計(jì)量，平均值大值小值
(5).校準(zhǔn)：可進(jìn)行零點(diǎn)校準(zhǔn)、兩點(diǎn)校準(zhǔn)及系統(tǒng)校準(zhǔn)
(6).電量：具有欠壓顯示功能
(7).打?。嚎纱蛴y(cè)量值，選配微型打印機(jī)
(8).關(guān)機(jī)：具有自動(dòng)關(guān)機(jī)和手動(dòng)關(guān)機(jī)兩種方法
6、電源：兩節(jié)1.5v電池
7、功耗：大功耗100mw
8、外形盡寸：124mm *50mm *24mm
9、重量：150g（含電池）
10、使用環(huán)境溫度：0℃~+40℃ 相對(duì)濕度：不大于90%
11、基體小厚度：0.3mm
12、基體小平面的直徑：7mm
13、小曲率半徑：凸:1.5mm 凹:6mm
14、欠電壓指示：右上角顯示＂＂
*臨界厚度?。汗ぜw厚度大于1mm時(shí)，其涂層厚度的測(cè)量不受基體厚度影響。
